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University of Freiburg

Mikrowellenplasma-Simulation, Abscheidung und Charakterisierung von polykristallinen, dotierten und undotierten Diamantschichten

Abstract

dc:description.abstract

Die vorliegende Arbeit beschäftigt sich mit zwei unterschiedlichen Themenbereichen auf dem Forschungsgebiet der CVD-Diamant-Technologie. Im Mittelpunkt des ersten Teils stehen Computersimulationen, die zur Optimierung und Neuentwicklung von Mikrowellen-Plasmareaktoren für die Niederdruck-Diamantabscheidung eingesetzt werden. Der zweite Themenkomplex befasst sich mit der Abscheidung und Charakterisierung bordotierter CVD-Diamantschichten. Um derartige Schichten herstellen zu können, wurde ein neuer Mikrowellenplasma-Reaktor mit ellipsoidförmigem Reflektor (Ellipsoidreaktor ERIX) aufgebaut. Als Dotierquelle für Bor wird flüssiges Trimethylborat (TMB) verwendet. Mit Hilfe einer Gasmischanlage können die Bor-Konzentrationen über fünf Größenordnungen variiert und unterschiedlich stark dotierte Proben abgeschieden werden. SIMS-Messungen geben Aufschluss über die erzielten Dotierkonzentrationen innerhalb der Proben. Raman-Messungen an hoch p-dotierten Diamantscheiben zeigen die erwartete Fanoresonanz. Absorptionsmessungen sowohl im infraroten also auch sichtbaren Spektralbereich werden an CVD-Diamantproben mit leichter bis starker Bor-Dotierung vorgenommen. Dass substitutionell eingebaute Bor-Atome als Punktdefekte Einfluss auf die Wärmeleitfähigkeit haben, wird durch temperaturabhängige Wärmeleitfähigkeitsmessungen belegt. Absorptionsmessungen an gelbem DCAJ- bzw. bräunlichem CVD-Diamant zeigen deutliche defektinduzierte Ein-Phonon-Absorption, wobei das Spektrum der gelben Probe den charakteristischen Verlauf für substitutionell eingebauten Stickstoff aufweist. Mit ESR-Messungen wird nachgewiesen, dass Stickstoff in gelbem DCAJ-CVD Diamant substitutionell eingebaut wird. Wärmeleitfähigkeitsmessungen zeigen, dass Phononenstreuung an Korngrenzen über weite Temperaturbereiche hinweg den thermischen Widerstand dominiert.

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*
Author dc:creator
  • Pleuler, Erik
Contributors dc:contributor
  • Koidl, Peter

Subjects

dc:subject × 8

Identifiers

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https://freidok.uni-freiburg.de/data/699
OAI identifier oai:identifier
oai:freidok.uni-freiburg.de:699

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University of Freiburg
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Last updated
2026-07-24
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Pleuler, Erik. Mikrowellenplasma-Simulation, Abscheidung und Charakterisierung von polykristallinen, dotierten und undotierten Diamantschichten. https://freidok.uni-freiburg.de/data/699