Échantillons anisotropes: ellipsométrie et stokesmétrie

L'objectif principal de ce travail est de développer la théorie et la méthode nécessaires pour analyser et caractériser des échantillons anisotropes non magnétiques sans activité optique. Par échantillon, nous entendons un empilement de couches minces sur les deux faces d'un substrat semi-transparent. Nous introduisons le formalisme de Jones ainsi que le concept d'ellipsomètre et les quantités photoellipsométriques pour un échantillon anisotrope. Nous introduisons également le formalisme de Mueller. Nous décrivons la théorie développée par Berreman pour les couches minces anisotropes, la théorie développée par Bader, de Dormale et La Salle pour les systèmes anisotropes stratifiés avec une monochromaticité non parfaite et les résultats numériques obtenus. Nous décrivons le mécanisme d'un nouveau type de Stokesmeter en cours de développement à l'Université de Moncton. Ensuite, nous utilisons le formalisme de Mueller pour déterminer les coefficients théoriques de l'intensité nécessaires à l'étalonnage du Stokesmeter. Nous présentons également la méthode utilisée pour déterminer les quantités photoellipsométriques à partir d'une mesure avec le Stokesmeter. L'ellipsomètre est ensuite utilisé pour étudier des échantillons isotropes de transmission de WO sb3 et un échantillon anisotrope de polycarbonate. Enfin, nous présentons les résultats de l'étalonnage du Stokesmeter.

Name thesis:degree_name

Maîtrise ès sciences (physique)

Level thesis:degree_level

2e cycle

Discipline thesis:degree_discipline

Faculté des sciences

Grantor dc:publisher

Université de Moncton

Year dc:date.issued

1998

Author dc:creator

• La Salle, Julie.

Advisor dc:contributor.advisor

• Bader, Georges

• Ellipsométrie
• Polarisation (Lumière)
• Anisotropie

Statement dc:rights

• Author

Language dc:language.iso

iso639-2b, fre

Identifier

oclc: 726511453

Dc Identifier Other

umir:1124

OAI identifier oai:identifier

oai:umoncton.scholaris.ca:20.500.14658/6606