Échantillons anisotropes: ellipsométrie et stokesmétrie
L'objectif principal de ce travail est de développer la théorie et la méthode nécessaires pour analyser et caractériser des échantillons anisotropes non magnétiques sans activité optique. Par échantillon, nous entendons un empilement de couches minces sur les deux faces d'un substrat semi-transparent. Nous introduisons le formalisme de Jones ainsi que le concept d'ellipsomètre et les quantités photoellipsométriques pour un échantillon anisotrope. Nous introduisons également le formalisme de Mueller. Nous décrivons la théorie développée par Berreman pour les couches minces anisotropes, la théorie développée par Bader, de Dormale et La Salle pour les systèmes anisotropes stratifiés avec une monochromaticité non parfaite et les résultats numériques obtenus. Nous décrivons le mécanisme d'un nouveau type de Stokesmeter en cours de développement à l'Université de Moncton. Ensuite, nous utilisons le formalisme de Mueller pour déterminer les coefficients théoriques de l'intensité nécessaires à l'étalonnage du Stokesmeter. Nous présentons également la méthode utilisée pour déterminer les quantités photoellipsométriques à partir d'une mesure avec le Stokesmeter. L'ellipsomètre est ensuite utilisé pour étudier des échantillons isotropes de transmission de WO$ \ sb3$ et un échantillon anisotrope de polycarbonate. Enfin, nous présentons les résultats de l'étalonnage du Stokesmeter.
Ellipsométrie, Polarisation (Lumière), Anisotropie
Networked Digital Library of Theses and Dissertations