Étude de l'influence des paramètres d'ablation sur les propriétés optiques et électriques de couches minces de carbone déposées par ablation laser

"Les couches minces à base de carbone nanostructuré ont été déposées sur un substrat de verre par la technique de déposition par laser pulsé. Cette technique consiste en l’ablation d’une cible (le graphite dans notre cas) par un laser pulsé. L’ensemble cible – substrat est placé dans une chambre à vide. Les couches minces ainsi déposées en utilisant les longueurs d’onde d’émission laser de 1064 nm, 532 nm et 266 nm ont subi plusieurs caractérisations. Les analyses ellipsométriques nous permettent d’estimer l’indice de réfraction complexe ainsi que l’épaisseur de nos couches. Nous constatons que la partie imaginaire de l’indice de réfraction de nos couches élaborées en utilisant les longueurs d’onde d’émission laser de 532 et 1064 nm diminue avec la fluence dans la gamme des basses fluences puis augmente avec la fluence dans la gamme des fluences plus élevées. Au cours de nos travaux, nous essayons de proposer une explication physique de l’évolution de la partie imaginaire de l’indice de réfraction en fonction de la fluence à travers l’étude spectroscopique du plasma généré lors de l’ablation laser du graphite." —Extrait du résumé

Name thesis:degree_name

Maîtrise ès sciences (physique)

Level thesis:degree_level

2e cycle

Discipline thesis:degree_discipline

Faculté des sciences

Grantor dc:publisher

Université de Moncton

Year dc:date.issued

2019

Author dc:creator

• Kaboré, Zackaria

Advisor dc:contributor.advisor

• Bisson, Jean-François

• Couches minces
• Propriétés optiques
• Dépôt par laser pulsé
• Propriétés électriques
• Indice de réfraction
• Carbone
• Graphite
• Surfaces (Physique)
• Substrats (Électronique)

Language dc:language.iso

iso639-2b, fre

Dc Identifier Other

umir:2289

OAI identifier oai:identifier

oai:umoncton.scholaris.ca:20.500.14658/6484