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Les analyses ellipsométriques nous permettent d’estimer l’indice de réfraction complexe ainsi que l’épaisseur de nos couches. Nous constatons que la partie imaginaire de l’indice de réfraction de nos couches élaborées en utilisant les longueurs d’onde d’émission laser de 532 et 1064 nm diminue avec la fluence dans la gamme des basses fluences puis augmente avec la fluence dans la gamme des fluences plus élevées. Au cours de nos travaux, nous essayons de proposer une explication physique de l’évolution de la partie imaginaire de l’indice de réfraction en fonction de la fluence à travers l’étude spectroscopique du plasma généré lors de l’ablation laser du graphite." —Extrait du résumé","abstract_html":""Les couches minces à base de carbone nanostructuré ont été déposées sur un substrat de verre par la technique de déposition par laser pulsé. Cette technique consiste en l’ablation d’une cible (le graphite dans notre cas) par un laser pulsé. 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