Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico

O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.

Author dc:creator

• Orellana Hurtado, Carlos Jesus

Advisor dc:contributor.advisor

• Susin, Altamiro Amadeu

• Microeletrônica
• Testes : Circuitos integrados
• Microscopio eletronico : Varredura
• Depuração : Circuitos integrados

Statement dc:rights

• Open Access

Language dc:language.iso

por

Handle dc:identifier.uri

http://hdl.handle.net/10183/2245

OAI identifier oai:identifier

oai:www.lume.ufrgs.br:10183/2245