Gitterschwingungen und freie Ladungsträger in Halbleiterschichtsystemen : Bestimmung dielektrischer Eigenschaften von Halbleitern mit Hilfe der IR-Spektroskopie

Kruse, Ralf

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Mainz

Gitterschwingungen und freie Ladungsträger in Halbleiterschichtsystemen : Bestimmung dielektrischer Eigenschaften von Halbleitern mit Hilfe der IR-Spektroskopie

dc:creator Kruse, Ralf

dc:date2000

Degree

thesis:*

Grantor dc:publisher: Mainz
Year dc:date: 2000

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*

Author dc:creator: Kruse, Ralf
Contributors dc:contributor: Geurts, Jean

Rights

dc:rights

Statement dc:rights: info:eu-repo/semantics/closedAccess
Language dc:language: ger

Identifiers

dc:identifier.*

Identifier: https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-118216%22
OAI record oai:identifier: https://publications.rwth-aachen.de/oai2d?verb=GetRecord&metadataPrefix=oai_dc&identifier=oai%3Apublications.rwth-aachen.de%3A56091

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Base URL: publications.rwth-aachen.de/oai2d
Last updated: 2026-07-30
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2000

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Kruse, Ralf. Gitterschwingungen und freie Ladungsträger in Halbleiterschichtsystemen : Bestimmung dielektrischer Eigenschaften von Halbleitern mit Hilfe der IR-Spektroskopie. Mainz, 2000. https://publications.rwth-aachen.de/record/56091

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