Rastertunnelmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an strukturierten Ge-Si(111)-Oberflächen

Theuerkauf, Nils

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RWTH Aachen University

Rastertunnelmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an strukturierten Ge-Si(111)-Oberflächen

dc:creator Theuerkauf, Nils

dc:date1999

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dc:creator, dc:contributor.*

Author dc:creator: Theuerkauf, Nils
Contributors dc:contributor: Bonzel, Hans Paul

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Statement dc:rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Language dc:language: ger

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dc:identifier.*

Identifier: https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-118057%22
OAI record oai:identifier: https://publications.rwth-aachen.de/oai2d?verb=GetRecord&metadataPrefix=oai_dc&identifier=oai%3Apublications.rwth-aachen.de%3A55926

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Base URL: publications.rwth-aachen.de/oai2d
Last updated: 2026-07-30
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1999

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Theuerkauf, Nils. Rastertunnelmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an strukturierten Ge-Si(111)-Oberflächen. 1999. https://publications.rwth-aachen.de/record/55926

Rastertunnelmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an strukturierten Ge-Si(111)-Oberflächen

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