Interference pattern analysis : Spezifität und Abhängigkeit von der Untersuchungstechnik

Rietschel, Anke

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RWTH Aachen University

Interference pattern analysis : Spezifität und Abhängigkeit von der Untersuchungstechnik

dc:creator Rietschel, Anke

dc:date1998

Author and committee

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Author dc:creator: Rietschel, Anke

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Statement dc:rights: info:eu-repo/semantics/closedAccess
Language dc:language: ger

Identifiers

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Identifier: https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-117580%22
OAI record oai:identifier: https://publications.rwth-aachen.de/oai2d?verb=GetRecord&metadataPrefix=oai_dc&identifier=oai%3Apublications.rwth-aachen.de%3A55441

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Base URL: publications.rwth-aachen.de/oai2d
Last updated: 2026-07-30
Source record: OAI-PMH GetRecord

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aachen
1998

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Rietschel, Anke. Interference pattern analysis : Spezifität und Abhängigkeit von der Untersuchungstechnik. 1998. https://publications.rwth-aachen.de/record/55441

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