Untersuchungen an dünnen Schichten mit Photoelektronenbeugung und Rastertunnelmikroskopie

Scheuch, Volker

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RWTH Aachen University

Untersuchungen an dünnen Schichten mit Photoelektronenbeugung und Rastertunnelmikroskopie

dc:creator Scheuch, Volker

dc:date1996

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*

Author dc:creator: Scheuch, Volker
Contributors dc:contributor: Bonzel, Hans Paul
Ibach, Harald

Subjects

dc:subject × 1

info:eu-repo/classification/ddc/530

Rights

dc:rights

Statement dc:rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Language dc:language: ger

Identifiers

dc:identifier.*

Identifier: https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-115993%22
OAI record oai:identifier: https://publications.rwth-aachen.de/oai2d?verb=GetRecord&metadataPrefix=oai_dc&identifier=oai%3Apublications.rwth-aachen.de%3A53827

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Harvested from: RWTH Aachen University
Base URL: publications.rwth-aachen.de/oai2d
Last updated: 2026-07-30
Source record: OAI-PMH GetRecord

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Scheuch, Volker. Untersuchungen an dünnen Schichten mit Photoelektronenbeugung und Rastertunnelmikroskopie. 1996. https://publications.rwth-aachen.de/record/53827

Untersuchungen an dünnen Schichten mit Photoelektronenbeugung und Rastertunnelmikroskopie

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