Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten

Seo, Jin-Won

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RWTH Aachen University

Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten

dc:creator Seo, Jin-Won

dc:date1995

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*

Author dc:creator: Seo, Jin-Won
Contributors dc:contributor: Urban, K.
Lüth, H.

Subjects

dc:subject × 1

info:eu-repo/classification/ddc/530

Rights

dc:rights

Statement dc:rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Language dc:language: ger

Identifiers

dc:identifier.*

Identifier: https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-115933%22
OAI record oai:identifier: https://publications.rwth-aachen.de/oai2d?verb=GetRecord&metadataPrefix=oai_dc&identifier=oai%3Apublications.rwth-aachen.de%3A53767

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Harvested from: RWTH Aachen University
Base URL: publications.rwth-aachen.de/oai2d
Last updated: 2026-07-30
Source record: OAI-PMH GetRecord

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Seo, Jin-Won. Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten. 1995. https://publications.rwth-aachen.de/record/53767

Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten

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