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Universität Oldenburg

Persistente Photoleitfähigkeit indünnen GaN- und AlGaN-Schichten

Abstract

dc:description.abstract

Galliumnitrid (GaN) wird In den nächsten Jahren Im Bereich optoelektronischer Anwendungen das dominierende Materialsystem für Bauteile wie Leuchtdioden und Halbleiterlaserdioden kurzwelligen (blau bis ultraviolett) sein. Rahmen dieser Arbeit untersuche ich Phänomen der persistenten Photoleitfähigkeit (PPC) GaN. Effekt zeigt sich GaN bei Beleuchtung mit Licht unterhalb Bandlückenenergie. die elektrische Leitfähigkeit steigt unter an bleibt nach Beendigung Lichtanregung extrem lange Zeiten bestehen. optische Anregbarkeit Subbandgap-Licht langen sind ein Hinweis auf tiefe metastabile Defekte Bandlücke von Ziel vorliegenden ist Es verantwortlichen Defekt zu identifizieren. werde insbesondere Sauerstoff als vermutlich PPC relevante Verunreinigung diskutieren. über energetische Charakterisierung physikalischen Mechanismus Metastabilität erklären mikroskopischen Potentialfluktationen begründet liegt. räumliche Lokalisierung des Defektes daß substratnahen GaN- Schicht eine besondere Bedeutung zukommt Erklärung Potentialfluktuationen. handelt um einen defektreichen mechanisch verspannten Probe hauptsächlich hervorgerufen durch Wachstumsfehler. einem Probenvergleich Wege aufzeigen reduziert oder vielleicht sogar verhindert werden kann.

Degree

thesis:*
Level thesis:degree_level
thesis.doctoral
Grantor dc:publisher
Universität Oldenburg
Year
1999

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*
Author dc:creator
  • Seifert, Oliver

Subjects

dc:subject × 1

Identifiers

dc:identifier.*
Repository record source_url
http://oops.uni-oldenburg.de/434
OAI identifier oai:identifier
oai:oops.uni-oldenburg.de:434

Chain of custody

source
Harvested from
Carl von Ossietzky Universität Oldenburg
Base URL
oops.uni-oldenburg.de/cgi/oai2
Last updated
2026-07-27
Source record
OAI-PMH GetRecord
citation

Seifert, Oliver. Persistente Photoleitfähigkeit indünnen GaN- und AlGaN-Schichten. thesis.doctoral thesis, Universität Oldenburg, 1999. http://oops.uni-oldenburg.de/434