Elektrische Mikrocharakterisierung von elektrochemisch hergestellten CIS-Solarzellen mittels EBIC

In dieser Arbeit geht es um die Interpretation von Electron-Beam-Induced-Current(EBIC)-Messungen an CIS-Solarzellen. Die EBIC-Messungen werden sowohl im Proben-Querschnitt (JEBIC) als auch planar (PEBIC) durchgeführt. Bei der JEBIC-Auswertung wird das Signal mit der lateralen Dosis des e-Strahls entfaltet. Die Ortsauflösung der Methode verbessert sich hierdurch um zwei Größenordnungen. An die entfaltete Datei wird ein Modell gefittet, welches auch den Einfluß der Lumineszenz berücksichtigt. Es erlaubt die Bestimmung der Diffusionslänge und die Breite der Raumladungszone. Aus der Abhängigkeit der Diffusionslänge von der Strahlenenergie kann die Bulkdiffusionslänge und die Oberflächen-Rekombinations-Geschwindigkeit gewonnen werden. Bei den PEBIC-Messungen wird ein Modell zur Deutung der großen charakteristischen Längen erarbeitet. Im Modell wird das großräumige Fließen von Majoritäten betrachtet. Es erlaubt die Bestimmung des Schichtwiderstandes der CIS-Schicht.

Level thesis:degree_level

thesis.doctoral

Grantor dc:publisher

Universität Oldenburg

Year

2000

Author dc:creator

• Rechid, Juan

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