La caractérisation optique d'une couche mince par ellipsométrie de réflexion et de transmission

Dans ce travail, une théorie ellipsométrique en réflexion et en transmission pour des systèmes multicouches déposés sur un substrat transparent a été reportée, ainsi qu'une approche théorique conçue à l'étude des couches minces imparfaites, qui tient en compte les effets de perte de cohérence dus aux imperfections dans les structures internes des films minces.

Name thesis:degree_name

Maîtrise ès sciences (physique)

Level thesis:degree_level

2e cycle

Discipline thesis:degree_discipline

Faculté des sciences

Grantor dc:publisher

Université de Moncton

Year dc:date.issued

1993

Author dc:creator

• Abderrahim, Fatine.

Advisor dc:contributor.advisor

• Bader, Georges

• Couches minces
• Propriétés optiques
• Ellipsométrie

Language dc:language.iso

iso639-2b, fre

Identifier

oclc: 726464696

Dc Identifier Other

umir:1159

OAI identifier oai:identifier

oai:umoncton.scholaris.ca:20.500.14658/7850