La caractérisation optique d'une couche mince par ellipsométrie de réflexion et de transmission
type: CreativeWork
description: Dans ce travail, une théorie ellipsométrique en réflexion et en transmission pour des systèmes multicouches déposés sur un substrat transparent a été reportée, ainsi qu'une approche théorique conçue à l'étude des couches minces imparfaites, qui tient en compte les effets de perte de cohérence dus aux imperfections dans les structures internes des films minces.
abstract: Dans ce travail, une théorie ellipsométrique en réflexion et en transmission pour des systèmes multicouches déposés sur un substrat transparent a été reportée, ainsi qu'une approche théorique conçue à l'étude des couches minces imparfaites, qui tient en compte les effets de perte de cohérence dus aux imperfections dans les structures internes des films minces.
author: Abderrahim, Fatine.
language: iso639-2b
language: fre
keywords: Couches minces, Propriétés optiques, Ellipsométrie
identifier: oclc: 726464696
date published: 1993
date modified: 2026-07-24T03:10:11Z
provider: University de Moncton
publisher: Networked Digital Library of Theses and Dissertations
type: WebPage
source organization: Université de Moncton

PropertyValue
property ID: Handle
value: https://hdl.handle.net/20.500.14658/7850