Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů

Tato bakalářská práce se zabývá technikami využívající svazek nabitých částic pro zobrazení a analýzu materiálu. Mezi nabité částice využívající se pro tyto účely patří elektrony a ionty. Tato rešeršní práce je tedy rozdělena na podstatu elektronové a podstatu iontové optiky. Dále je zde pojednáno o principu funkce, konstrukci a detektorech, které slouží k obrazové a chemické analýze skenovací elektronové mikroskopie, transmisní elektronové mikroskopie a metody fokusovaného iontového svazku.

Grantor dc:publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství

Author dc:creator

• Lamborová, Leona

Advisor dc:contributor.advisor

• Čupera, Jan

• Skenovací elektronová mikroskopie
• transmisní elektronová mikroskopie
• metoda fokusovaného iontového svazku
• svazek nabitých částic
• Scanning electron microscopy
• transmission electron microscopy
• focused ion beam
• beam of charged particles

Statement dc:rights

• Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení

Language dc:language.iso

cs

Dc Identifier Other

116013

OAI identifier oai:identifier

oai:dspace.vut.cz:11012/176661