{"id":{"repo_id":"brno-tech","oai_identifier":"oai:dspace.vut.cz:11012/176661"},"canonical_url":"https://search.dev.ndltd.org/etd/brno-tech/oai:dspace.vut.cz:11012/176661","repository":{"repo_id":"brno-tech","name":"Brno University of Technology","base_url":"https://dspace.vut.cz/oai/request"},"display":{"title":"Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů","abstract":"Tato bakalářská práce se zabývá technikami využívající svazek nabitých částic pro zobrazení a analýzu materiálu. Mezi nabité částice využívající se pro tyto účely patří elektrony a ionty. Tato rešeršní práce je tedy rozdělena na podstatu elektronové a podstatu iontové optiky. Dále je zde pojednáno o principu funkce, konstrukci a detektorech, které slouží k obrazové a chemické analýze skenovací elektronové mikroskopie, transmisní elektronové mikroskopie a metody fokusovaného iontového svazku.","abstract_html":"Tato bakalářská práce se zabývá technikami využívající svazek nabitých částic pro zobrazení a analýzu materiálu. Mezi nabité částice využívající se pro tyto účely patří elektrony a ionty. Tato rešeršní práce je tedy rozdělena na podstatu elektronové a podstatu iontové optiky. Dále je zde pojednáno o principu funkce, konstrukci a detektorech, které slouží k obrazové a chemické analýze skenovací elektronové mikroskopie, transmisní elektronové mikroskopie a metody fokusovaného iontového svazku.","abstract_has_math":false,"creators":["Lamborová, Leona"],"institution":"Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství","degree_name":null,"degree_level":null,"degree_discipline":null,"degree_department":null,"school":null,"contributors":[],"advisors":["Čupera, Jan"],"committee_chairs":[],"committee_members":[],"year":null,"date_issued":"","date_published":null,"updated_at":"2026-07-24T01:22:09Z","subjects":["Skenovací elektronová mikroskopie","transmisní elektronová mikroskopie","metoda fokusovaného iontového svazku","svazek nabitých částic","Scanning electron microscopy","transmission electron microscopy","focused ion beam","beam of charged particles"],"languages":["cs"],"rights":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"],"rights_urls":[],"identifier_entries":[{"key":"dc:identifier.other","label":"Dc Identifier Other","values":["116013"],"render_values":[{"text":"116013","href":null,"code":true}]}]},"links":{"outbound_url":"http://hdl.handle.net/11012/176661","outbound_label":"Handle","outbound_source":"dc:identifier.uri"},"metadata_groups":[{"id":"people","label":"People","entries":[{"key":"dc:contributor.advisor","label":"Advisor","values":["Čupera, Jan"]},{"key":"dc:creator","label":"Author","values":["Lamborová, Leona"]}]},{"id":"academic_context","label":"Academic Context","entries":[{"key":"dc:publisher","label":"Institution","values":["Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství"]},{"key":"dc:type","label":"Dc Type","values":["Text"]},{"key":"thesis:institution_name","label":"Thesis Institution Name","values":["Bc."]}]},{"id":"subjects_keywords","label":"Subjects and Keywords","entries":[{"key":"dc:subject","label":"Dc Subject","values":["Skenovací elektronová mikroskopie","transmisní elektronová mikroskopie","metoda fokusovaného iontového svazku","svazek nabitých částic","Scanning electron microscopy","transmission electron microscopy","focused ion beam","beam of charged particles"]}]},{"id":"language_rights","label":"Language and Rights","entries":[{"key":"dc:language.iso","label":"Language (ISO)","values":["cs"]},{"key":"dc:rights","label":"Dc Rights","values":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"]}]},{"id":"identifiers","label":"Identifiers","entries":[{"key":"dc:identifier.other","label":"Dc Identifier Other","values":["116013"]},{"key":"dc:identifier.uri","label":"Identifier URI","values":["http://hdl.handle.net/11012/176661"]}]},{"id":"additional","label":"Additional Metadata","entries":[{"key":"dc:description.abstract","label":"Abstract","values":["Tato bakalářská práce se zabývá technikami využívající svazek nabitých částic pro zobrazení a analýzu materiálu. Mezi nabité částice využívající se pro tyto účely patří elektrony a ionty. Tato rešeršní práce je tedy rozdělena na podstatu elektronové a podstatu iontové optiky. Dále je zde pojednáno o principu funkce, konstrukci a detektorech, které slouží k obrazové a chemické analýze skenovací elektronové mikroskopie, transmisní elektronové mikroskopie a metody fokusovaného iontového svazku.","This bachelor´s thesis deals with techniques using beam of charged particles for imaging and material analysis. There are two types of charged particles that are used for this purpose, electrons and ions. This research study is divided into principles of electron optics and principles of ion optics. Further, there is mentioned function, construction and detectors used for imaging and chemical analysis of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam."]},{"key":"dc:title","label":"Title","values":["Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů"]}]}],"canonical_facts":{"dc:contributor.advisor":["Čupera, Jan"],"dc:creator":["Lamborová, Leona"],"dc:description.abstract":["Tato bakalářská práce se zabývá technikami využívající svazek nabitých částic pro zobrazení a analýzu materiálu. Mezi nabité částice využívající se pro tyto účely patří elektrony a ionty. Tato rešeršní práce je tedy rozdělena na podstatu elektronové a podstatu iontové optiky. Dále je zde pojednáno o principu funkce, konstrukci a detektorech, které slouží k obrazové a chemické analýze skenovací elektronové mikroskopie, transmisní elektronové mikroskopie a metody fokusovaného iontového svazku.","This bachelor´s thesis deals with techniques using beam of charged particles for imaging and material analysis. There are two types of charged particles that are used for this purpose, electrons and ions. This research study is divided into principles of electron optics and principles of ion optics. Further, there is mentioned function, construction and detectors used for imaging and chemical analysis of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam."],"dc:identifier.other":["116013"],"dc:identifier.uri":["http://hdl.handle.net/11012/176661"],"dc:language.iso":["cs"],"dc:publisher":["Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství"],"dc:rights":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"],"dc:subject":["Skenovací elektronová mikroskopie","transmisní elektronová mikroskopie","metoda fokusovaného iontového svazku","svazek nabitých částic","Scanning electron microscopy","transmission electron microscopy","focused ion beam","beam of charged particles"],"dc:title":["Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů"],"dc:type":["Text"],"thesis:institution_name":["Bc."]},"updated_at":"2026-07-24T01:22:09Z"}