Aplicación de la técnica de carga en exceso en el dominio espectral a la caracterización de discontinuidad en línea microtira de resistencia infinita
En esta Memoria se utiliza la técnica de carga en exceso en el dominio espectral para obtener los parámetros de circuito correspondientes a los circuitos equivalentes cuasielectrostáticos de diferentes discontinuidades en línea microtira de resistencia infinita (conc ... retamente, de microtiras acabadas en abierto aisladas y acopladas, de gaps entre líneas microtira y de cruces ortogonales entre líneas microtira no coplanares). Las tiras conductoras involucradas en las discontinuidades analizadas se suponen inmensasas en un medio estratificado. Los materiales de dicho medio pueden presentar anisotropía dieléctrica uniáxica y/o pueden tener conductividades no nulas. Las metalizaciones de las discontinuidades se consideran ideales, y en el estudio realizado se contempla tanto el caso en el que dichas metalizaciones se suponen infinitamente delgadas, como el caso en el que las metalizaciones presentan grosor no nulo. Dentro de la Memoria se presenta también una técnica experimental que permite medir los parámetros de circuito de gaps entre líneas microtira. Los resultados experimentales obtenidos con esta técnica son comparados con resultados teóricos obtenidos a partir de la técnica de carga en exceso en el dominio espectral, encontrándose en general una buena concordancia
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