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Universidad de Sevilla

Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos

dc:creator Vázquez García de la Vega, Diego

dc:date.issued1995

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*

Author dc:creator: Vázquez García de la Vega, Diego
Advisors dc:contributor.advisor: Rueda Rueda, Adoración
Huertas Díaz, José Luis

Rights

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Statement dc:rights: Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 España
Licence dc:rights.uri: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
Language dc:language.iso: spa

Identifiers

dc:identifier.*

Handle dc:identifier.uri: http://hdl.handle.net/11441/15705
OAI identifier oai:identifier: oai:idus.us.es:11441/15705

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Harvested from: Universidad de Sevilla
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Last updated: 2026-07-24
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sevilla
1995

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Vázquez García de la Vega, Diego. Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos. 1995. http://hdl.handle.net/11441/15705

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