Numerische Simulationen von Dünnschichtsolarzellen aus amorphem und mikrokristallinem Silizium : Modellvalidierung und Einflüsse der Substrattopographie auf die elektrischen Solarzelleneigenschaften

Die vorliegende Arbeit präsentiert die Ergebnisse von optischen und elektrischen Simulationen amorpher und mikrokristalliner Silizium-Dünnschichtsolarzellen, welche mit Hilfe von experimentellen Hell- und Dunkelkennlinien sowie EQE-Spektren validiert werden. Durch die Implementierung von Band-zu-Band-Tunnelprozessen in die Solarzellenmodellierung wird zudem gezeigt, dass einerseits die experimentell beobachteten Halbleitereigenschaften von transparenten leitfähigen Oxiden (TCO) und andererseits die interne Verschaltung mikromorpher Tandemstrukturen simulativ abgebildet werden können. Des Weiteren werden mehrdimensionale virtuelle Strukturen präsentiert, mit denen die Simulation von Lichtstreueffekten an internen Solarzellengrenzflächen ermöglicht wird. Die 3D-Modellierung wird auf neuartige TCO-Nanosäulensubstrate übertragen, indem durchschnittliche Säulengeometrien und isotrope Wachstumseigenschaften amorpher Siliziumschichten berücksichtigt werden.

Level thesis:degree_level

thesis.doctoral

Grantor dc:publisher

Universität Oldenburg

Year

2012

Author dc:creator

• Geißendörfer, Stefan Ewald

Contributors dc:contributor

• Agert, Carsten
• Parisi, Jürgen

• Dünnschichtsolarzelle , Silicium , Amorpher Zustande , Mikrokristall , Numerisches Modell

Repository record source_url

http://oops.uni-oldenburg.de/1428

OAI identifier oai:identifier

oai:oops.uni-oldenburg.de:1428