Propriétés optiques des couches ultra-minces de cuivre par la méthode RTAM

« L’étude des propriétés optiques de couches minces granulaires de cuivre fut entreprise dans la région spectrale allant de 500 à 850nm. On a étudié, par la méthode de réflexion totale atténuée multiple, plusieurs échantillons de Cu ayant des épaisseurs massiques de 1.0 à 4.0nm et tous recouverts de 50.0nm de LiF. On supposa les grains de cuivre distribués sur un réseau bidimensionnel carré et un modèle théorique traitant de la polarisabilité d’une particule sphéroïdale sur un substrat fut utilisé pour tenter de reproduire les courbes expérimentales. La procédure expérimentale proposée constitue une méthode très efficace pour examiner les propriétés optiques des grains de très petites tailles et complémente ainsi les méthodes normales de réflexion et transmission optiques simples. »

Name thesis:degree_name

Maîtrise ès sciences (physique)

Level thesis:degree_level

2e cycle

Discipline thesis:degree_discipline

Faculté des sciences et de génie (1977-1991)

Grantor dc:publisher

Université de Moncton

Year dc:date.issued

1989

Author dc:creator

• Allard, Louis B.

Advisor dc:contributor.advisor

• Truong, Vo-Van

• Couches minces métalliques
• Couches minces
• Propriétés optiques

Statement dc:rights

• Author

Language dc:language.iso

iso639-2b, fre

Identifier

oclc: 726418946

Dc Identifier Other

umir:749

OAI identifier oai:identifier

oai:umoncton.scholaris.ca:20.500.14658/8102