Neue Methoden zur Größen- und Formbestimmung von fluoreszierenden Nanostrukturen unter Verwendung der SMI-Mikroskopie
Bisher ging man bei der Größenbestimmung mit der SMI-Mikroskopie von einem idealen Wellenfeldverlauf aus. Störungen des Wellenfeldes, welche die Punktbildfunktion (PSF) des Mikroskops verändern, wurden nicht berücksichtigt. Durch Verwendung von fluoreszierenden Objekten mit bekannter Farbstoffverteilung als Referenzobjekte konnte für jede Größenmessung eine individuelle Punktbildfunktion des SMI-Mikroskops berechnet werden. Damit wurde für jede Messung eine individuelle R(S)-Kurve, die den Zusammenhang zwischen dem Modulationskontrast R und der Objektgröße S beschreibt, ermittelt. Es werden Größenmessungen an Mikrokugeln mit nominalen Durchmessern zwischen 71 nm und 200 nm vorgestellt. Die Ergebnisse werden mit den Ergebnissen verglichen, die man ohne Verwendung von Referenzobjekten erhielte. Es konnte gezeigt werden, dass die Verwendung von Referenzobjekten die Genauigkeit der Größenbestimmung deutlich erhöht. In einem weiteren Teil der Arbeit wird die Formabhängigkeit der R(S)-Kurven durch Einführung neuer Größenmaße verringert. Diese neuen Größenmaße stellen nicht mehr die Gesamtausdehnung der Farbstoffverteilung dar, sondern geben eine mittlere Ausdehnung an. Bei größeren Objekten (d>= ca. 100 nm) bleiben die R(S)-Kurven jedoch formabhängig. Durch Vermessung der Farbstoffverteilung bei zwei verschiedenen Anregungswellenlängen kann für diese größeren Objekte ein Formparameter ermittelt werden. Dieser erlaubt die Auswahl der richtigen R(S)-Kurve. Dazu werden Messungen an Vollkugeln mit einem nominalen Durchmesser von 190 nm vorgestellt.
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