EXOR-basierte Logiksynthese mit Kronecker Functional Decision Diagrams

In dieser Arbeit wird ein Syntheseverfahren zur Analyse der <br>Abhängigkeiten in KFDDs vorgestellt. <br>In KFDDs wird neben der Shannon Dekomposition auch die Davio <br>Dekomposition eingesetzt, die auf der EXOR-Operation basiert. <br>Daher wird die Verwendung von EXOR-Gattern in den <br>synthetisierten Schaltkreisen auf natürliche Weise impliziert. <br> <br>Daneben wird eine Reihe von lokalen Vereinfachungen für die <br>Schaltkreisrealisierung vorgestellt, die <br>während der Synthese implizit durchgeführt werden können. <br>Dadurch wird die Größe weiter optimiert sowie <br>eine geringe Tiefe und damit eine geringe Verzögerungszeit <br>für den Schaltkreis erreicht. <br> <br>Zusätzlich wird gezeigt, daß auch direkte Abhängigkeiten zwischen <br>Knoten aus nicht benachbarten Leveln <br>unmittelbar in der Schaltkreisrealisierung umgesetzt werden <br>können. Die für das verallgemeinerte Syntheseverfahren nötigen <br>Anforderungen an die Struktur des KFDDs können mit erheblich <br>weniger Knoten erfüllt werden. <br> <br>Die Testbarkeit der synthetisierten Schaltkreise wird bzgl. <br>des stuck-at Fehlermodells untersucht. Durch Analyse der <br>Graphstruktur des verwendeten KFDDs kann erreicht werden, <br>daß in den erzeugten Schaltkreisen keine konstanten <br>Signale existieren. Für die so erzeugten Schaltkreise <br>wird gezeigt, daß sie vollständig testbar sind. <br>Dazu werden Verfahren vorgestellt, mit denen Testmuster für <br>alle stuck-at Fehler bereits während der Synthese bestimmt werden. <br>Die Anwendung von automatischer Testmustergenerierung für <br>die synthetisierten Schaltkreise ist somit nicht mehr <br>erforderlich. <br>Allerdings ist die Anzahl der erzeugten Testmuster sehr hoch, <br>so daß eine Kompaktierung der erzeugten Testmengen nötig wird. <br> <br>Schließlich wird noch gezeigt, daß die Größe und Tiefe der <br>synthetisierten Schaltkreise durch Verschmelzen von <br>äquivalenten Gattern weiter reduziert werden kann. <br>Für die dabei erzeugten Schaltkreise kann die vollständige <br>Testbarkeit jedoch nur experimentell nachgewiesen werden.

Author dc:creator

• Hengster, Harry

Contributors dc:contributor

• Becker, Bernd

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