{"id":{"repo_id":"brno-tech","oai_identifier":"oai:dspace.vut.cz:11012/192384"},"canonical_url":"https://search.dev.ndltd.org/etd/brno-tech/oai:dspace.vut.cz:11012/192384","repository":{"repo_id":"brno-tech","name":"Brno University of Technology","base_url":"https://dspace.vut.cz/oai/request"},"display":{"title":"Návrh projektorové soustavy transmisního elektronového mikroskopu pro metodu Single Particle Analysis","abstract":"Předkládaná práce se zabývá návrhem projektorové soustavy transmisního elektronového mikroskopu (TEM) pro metodu single particle analysis (SPA). Návrh projektorové soustavy byl vytvořen v programu Electron Optical Design (EOD) verze 4.020. Série buzení jednotlivých čoček pro zvětšení projektorové soustavy v rozsahu od 50 do 10000 byla vypočítaná pomocí přístupu využívajícího aproximaci tenké čočky, dále pomocí přístupu využívajícího aproximaci tlusté čočky, metodou linearního zaostření v programu EOD a metodou nelineárního zaostření v programu EOD ve verzi 5.003. Dosažené výsledky byly porovnány a ověřeny pomocí reálného trasování částic v programu EOD.","abstract_html":"Předkládaná práce se zabývá návrhem projektorové soustavy transmisního elektronového mikroskopu (TEM) pro metodu single particle analysis (SPA). Návrh projektorové soustavy byl vytvořen v programu Electron Optical Design (EOD) verze 4.020. Série buzení jednotlivých čoček pro zvětšení projektorové soustavy v rozsahu od 50 do 10000 byla vypočítaná pomocí přístupu využívajícího aproximaci tenké čočky, dále pomocí přístupu využívajícího aproximaci tlusté čočky, metodou linearního zaostření v programu EOD a metodou nelineárního zaostření v programu EOD ve verzi 5.003. Dosažené výsledky byly porovnány a ověřeny pomocí reálného trasování částic v programu EOD.","abstract_has_math":false,"creators":["Bačo, Ondřej"],"institution":"Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství","degree_name":null,"degree_level":null,"degree_discipline":null,"degree_department":null,"school":null,"contributors":[],"advisors":["Sháněl, Ondřej"],"committee_chairs":[],"committee_members":[],"year":null,"date_issued":"","date_published":null,"updated_at":"2026-07-24T01:22:34Z","subjects":["TEM","SPA","projektorová soustava","elektronová optika","EOD","paraxialní aproximace","projection system","electron optics","paraxial approximation"],"languages":["en"],"rights":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"],"rights_urls":[],"identifier_entries":[{"key":"dc:identifier.other","label":"Dc Identifier Other","values":["125288"],"render_values":[{"text":"125288","href":null,"code":true}]}]},"links":{"outbound_url":"http://hdl.handle.net/11012/192384","outbound_label":"Handle","outbound_source":"dc:identifier.uri"},"metadata_groups":[{"id":"people","label":"People","entries":[{"key":"dc:contributor.advisor","label":"Advisor","values":["Sháněl, Ondřej"]},{"key":"dc:creator","label":"Author","values":["Bačo, Ondřej"]}]},{"id":"academic_context","label":"Academic Context","entries":[{"key":"dc:publisher","label":"Institution","values":["Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství"]},{"key":"dc:type","label":"Dc Type","values":["Text"]},{"key":"thesis:institution_name","label":"Thesis Institution Name","values":["Ing."]}]},{"id":"subjects_keywords","label":"Subjects and Keywords","entries":[{"key":"dc:subject","label":"Dc Subject","values":["TEM","SPA","projektorová soustava","elektronová optika","EOD","paraxialní aproximace","projection system","electron optics","paraxial approximation"]}]},{"id":"language_rights","label":"Language and Rights","entries":[{"key":"dc:language.iso","label":"Language (ISO)","values":["en"]},{"key":"dc:rights","label":"Dc Rights","values":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"]}]},{"id":"identifiers","label":"Identifiers","entries":[{"key":"dc:identifier.other","label":"Dc Identifier Other","values":["125288"]},{"key":"dc:identifier.uri","label":"Identifier URI","values":["http://hdl.handle.net/11012/192384"]}]},{"id":"additional","label":"Additional Metadata","entries":[{"key":"dc:description.abstract","label":"Abstract","values":["Předkládaná práce se zabývá návrhem projektorové soustavy transmisního elektronového mikroskopu (TEM) pro metodu single particle analysis (SPA). Návrh projektorové soustavy byl vytvořen v programu Electron Optical Design (EOD) verze 4.020. Série buzení jednotlivých čoček pro zvětšení projektorové soustavy v rozsahu od 50 do 10000 byla vypočítaná pomocí přístupu využívajícího aproximaci tenké čočky, dále pomocí přístupu využívajícího aproximaci tlusté čočky, metodou linearního zaostření v programu EOD a metodou nelineárního zaostření v programu EOD ve verzi 5.003. Dosažené výsledky byly porovnány a ověřeny pomocí reálného trasování částic v programu EOD.","This thesis deals with the design of the transmission electron microscope (TEM) projection system for single particle analysis (SPA). The projection system design was created in Electron Optical Design (EOD) software version 4.020. The lens excitation series for projection system magnifications ranging from 50 to 10000 were calculated using thin lens approximation approach, thick lens approximation approach, EOD linear focus method and EOD nonlinear focus method, as implemented in 5.003 version. Obtained results were compared and validated utilizing EOD real particle tracing method."]},{"key":"dc:title","label":"Title","values":["Návrh projektorové soustavy transmisního elektronového mikroskopu pro metodu Single Particle Analysis"]}]}],"canonical_facts":{"dc:contributor.advisor":["Sháněl, Ondřej"],"dc:creator":["Bačo, Ondřej"],"dc:description.abstract":["Předkládaná práce se zabývá návrhem projektorové soustavy transmisního elektronového mikroskopu (TEM) pro metodu single particle analysis (SPA). Návrh projektorové soustavy byl vytvořen v programu Electron Optical Design (EOD) verze 4.020. Série buzení jednotlivých čoček pro zvětšení projektorové soustavy v rozsahu od 50 do 10000 byla vypočítaná pomocí přístupu využívajícího aproximaci tenké čočky, dále pomocí přístupu využívajícího aproximaci tlusté čočky, metodou linearního zaostření v programu EOD a metodou nelineárního zaostření v programu EOD ve verzi 5.003. Dosažené výsledky byly porovnány a ověřeny pomocí reálného trasování částic v programu EOD.","This thesis deals with the design of the transmission electron microscope (TEM) projection system for single particle analysis (SPA). The projection system design was created in Electron Optical Design (EOD) software version 4.020. The lens excitation series for projection system magnifications ranging from 50 to 10000 were calculated using thin lens approximation approach, thick lens approximation approach, EOD linear focus method and EOD nonlinear focus method, as implemented in 5.003 version. Obtained results were compared and validated utilizing EOD real particle tracing method."],"dc:identifier.other":["125288"],"dc:identifier.uri":["http://hdl.handle.net/11012/192384"],"dc:language.iso":["en"],"dc:publisher":["Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství"],"dc:rights":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"],"dc:subject":["TEM","SPA","projektorová soustava","elektronová optika","EOD","paraxialní aproximace","projection system","electron optics","paraxial approximation"],"dc:title":["Návrh projektorové soustavy transmisního elektronového mikroskopu pro metodu Single Particle Analysis"],"dc:type":["Text"],"thesis:institution_name":["Ing."]},"updated_at":"2026-07-24T01:22:34Z"}