{"id":{"repo_id":"brno-tech","oai_identifier":"oai:dspace.vut.cz:11012/1762"},"canonical_url":"https://search.dev.ndltd.org/etd/brno-tech/oai:dspace.vut.cz:11012/1762","repository":{"repo_id":"brno-tech","name":"Brno University of Technology","base_url":"https://dspace.vut.cz/oai/request"},"display":{"title":"Využití šumové diagnostiky k analýze vlastností solárních článků","abstract":"Diplomová práce se zabývá šumovou diagnostikou fotovoltaických článků. Popisuje hlavní druhy šumů, které vznikající v solárních článcích. Zkoumané vzorky byly roztřízeny na kvalitní a spolehlivé pomocí šumových spolehlivostních indikátorů. Vzorky byly zkoumány pomocí měření VA charakteristik, spektrální výkonové hustoty šumového napětí v závislosti na napětí a frekvenci. Dopočítána byla spektrální výkonová hustota šumového proudu v závislosti na proudu.","abstract_html":"Diplomová práce se zabývá šumovou diagnostikou fotovoltaických článků. Popisuje hlavní druhy šumů, které vznikající v solárních článcích. Zkoumané vzorky byly roztřízeny na kvalitní a spolehlivé pomocí šumových spolehlivostních indikátorů. Vzorky byly zkoumány pomocí měření VA charakteristik, spektrální výkonové hustoty šumového napětí v závislosti na napětí a frekvenci. Dopočítána byla spektrální výkonová hustota šumového proudu v závislosti na proudu.","abstract_has_math":false,"creators":["Husák, Marek"],"institution":"Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií","degree_name":null,"degree_level":null,"degree_discipline":null,"degree_department":null,"school":null,"contributors":[],"advisors":["Vaněk, Jiří"],"committee_chairs":[],"committee_members":[],"year":null,"date_issued":"","date_published":null,"updated_at":"2026-07-24T01:22:41Z","subjects":["elektrický šum","spolehlivostní fyzika","polovodič","PN přechod","tepelný šum","výstřelový šum","rozdělovací šum","1/f šum","impulzní šum","lavinový šum","generačně-rekombinační šum","RTS šum","šum mikroplazmy","fotovoltaický článek","electrical noise","reliability physics","semiconductor","p-n junction","thermal noise","shot noise","flicker noise","1/f noise","burst noise","multiplication noise","generation-rekombination noise","random telegraphic signal noise","microplasma noise","solar cell"],"languages":["cs"],"rights":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"],"rights_urls":[],"identifier_entries":[{"key":"dc:identifier.other","label":"Dc Identifier Other","values":["23798"],"render_values":[{"text":"23798","href":null,"code":true}]}]},"links":{"outbound_url":"http://hdl.handle.net/11012/1762","outbound_label":"Handle","outbound_source":"dc:identifier.uri"},"metadata_groups":[{"id":"people","label":"People","entries":[{"key":"dc:contributor.advisor","label":"Advisor","values":["Vaněk, Jiří"]},{"key":"dc:creator","label":"Author","values":["Husák, Marek"]}]},{"id":"academic_context","label":"Academic Context","entries":[{"key":"dc:publisher","label":"Institution","values":["Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií"]},{"key":"dc:type","label":"Dc Type","values":["Text"]},{"key":"thesis:institution_name","label":"Thesis Institution Name","values":["Ing."]}]},{"id":"subjects_keywords","label":"Subjects and Keywords","entries":[{"key":"dc:subject","label":"Dc Subject","values":["elektrický šum","spolehlivostní fyzika","polovodič","PN přechod","tepelný šum","výstřelový šum","rozdělovací šum","1/f šum","impulzní šum","lavinový šum","generačně-rekombinační šum","RTS šum","šum mikroplazmy","fotovoltaický článek","electrical noise","reliability physics","semiconductor","p-n junction","thermal noise","shot noise","flicker noise","1/f noise","burst noise","multiplication noise","generation-rekombination noise","random telegraphic signal noise","microplasma noise","solar cell"]}]},{"id":"language_rights","label":"Language and Rights","entries":[{"key":"dc:language.iso","label":"Language (ISO)","values":["cs"]},{"key":"dc:rights","label":"Dc Rights","values":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"]}]},{"id":"identifiers","label":"Identifiers","entries":[{"key":"dc:identifier.other","label":"Dc Identifier Other","values":["23798"]},{"key":"dc:identifier.uri","label":"Identifier URI","values":["http://hdl.handle.net/11012/1762"]}]},{"id":"additional","label":"Additional Metadata","entries":[{"key":"dc:description.abstract","label":"Abstract","values":["Diplomová práce se zabývá šumovou diagnostikou fotovoltaických článků. Popisuje hlavní druhy šumů, které vznikající v solárních článcích. Zkoumané vzorky byly roztřízeny na kvalitní a spolehlivé pomocí šumových spolehlivostních indikátorů. Vzorky byly zkoumány pomocí měření VA charakteristik, spektrální výkonové hustoty šumového napětí v závislosti na napětí a frekvenci. Dopočítána byla spektrální výkonová hustota šumového proudu v závislosti na proudu.","The master’s thesis deals with the noise diagnostic in the solar cells. Describes the main kinds of noises. The samples were quality and reliability screened using noise reliability indicators. The samples were surveyed by measuring the I-V characteristics, the noise spectral density as a function of forward voltage and frequency. It was calculated the noise spectral density as a function of forward current."]},{"key":"dc:title","label":"Title","values":["Využití šumové diagnostiky k analýze vlastností solárních článků"]}]}],"canonical_facts":{"dc:contributor.advisor":["Vaněk, Jiří"],"dc:creator":["Husák, Marek"],"dc:description.abstract":["Diplomová práce se zabývá šumovou diagnostikou fotovoltaických článků. Popisuje hlavní druhy šumů, které vznikající v solárních článcích. Zkoumané vzorky byly roztřízeny na kvalitní a spolehlivé pomocí šumových spolehlivostních indikátorů. Vzorky byly zkoumány pomocí měření VA charakteristik, spektrální výkonové hustoty šumového napětí v závislosti na napětí a frekvenci. Dopočítána byla spektrální výkonová hustota šumového proudu v závislosti na proudu.","The master’s thesis deals with the noise diagnostic in the solar cells. Describes the main kinds of noises. The samples were quality and reliability screened using noise reliability indicators. The samples were surveyed by measuring the I-V characteristics, the noise spectral density as a function of forward voltage and frequency. It was calculated the noise spectral density as a function of forward current."],"dc:identifier.other":["23798"],"dc:identifier.uri":["http://hdl.handle.net/11012/1762"],"dc:language.iso":["cs"],"dc:publisher":["Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií"],"dc:rights":["Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení"],"dc:subject":["elektrický šum","spolehlivostní fyzika","polovodič","PN přechod","tepelný šum","výstřelový šum","rozdělovací šum","1/f šum","impulzní šum","lavinový šum","generačně-rekombinační šum","RTS šum","šum mikroplazmy","fotovoltaický článek","electrical noise","reliability physics","semiconductor","p-n junction","thermal noise","shot noise","flicker noise","1/f noise","burst noise","multiplication noise","generation-rekombination noise","random telegraphic signal noise","microplasma noise","solar cell"],"dc:title":["Využití šumové diagnostiky k analýze vlastností solárních článků"],"dc:type":["Text"],"thesis:institution_name":["Ing."]},"updated_at":"2026-07-24T01:22:41Z"}