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O presente trabalho tem como objetivo promover, através da técnica de elipsometria, a caracterização de propriedades ópticas para diferentes espessuras de filmes de óxido anódico de nióbio. O estudo é divido nas etapas de preparação metalográfica da superfície, verificação do padrão de superfície por microscopia confocal, caracterização elipsométrica do conjunto nióbio metálico e óxido natural, que será usado como substrato, crescimento dos filmes de óxido anódico de nióbio e, por fim, caracterização elipsométrica destes filmes. Foi verificado que a espessura do filme apresenta uma relação linear com a voltagem aplicada, assim como encontrado em diversos estudos. Após análise dos dados e ajuste entre as curvas medidas e as obtidas por modelagem computacional foram obtidos resultados, para índice de refração e coeficiente de extinção, correspondentes aos encontrados nas literaturas para o óxido de nióbio na sua forma mais estável: Nb2O5. 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