{"id":{"repo_id":"aachen","oai_identifier":"oai:publications.rwth-aachen.de:50010"},"canonical_url":"https://search.dev.ndltd.org/etd/aachen/oai:publications.rwth-aachen.de:50010","repository":{"repo_id":"aachen","name":"RWTH Aachen University","base_url":"https://publications.rwth-aachen.de/oai2d"},"display":{"title":"Structural analysis of diblock copolymer nanotemplates using grazing incidence scattering","abstract":"Die Aufgabenstellung dieser Arbeit ist zweigeteilt. Zum einen wurde eine lithographische Methode zur Herstellung von Nanotemplaten geordneter magnetischer Nanostrukturen auf großen Oberflächen (größer als 1x1 cm^2) untersucht. Zum anderen wurde eine strukturelle Analyse der erhaltenen Nanotemplate mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM), Kleinwinkelstreuung unter streifendem Einfall (GISAS) und Neutronenreflektometrie durchgeführt. Ein Vergleich dieser Techniken, die Simulationen von GISAS Streubildern mit der Bornschen Näherung mit gestörten Wellen (DWBA) und eine Beschreibung instrumenteller Verschmierungseffekte werden im Rahmen dieser Arbeit detailliert behandelt.","abstract_html":"Die Aufgabenstellung dieser Arbeit ist zweigeteilt. Zum einen wurde eine lithographische Methode zur Herstellung von Nanotemplaten geordneter magnetischer Nanostrukturen auf großen Oberflächen (größer als 1x1 cm^2) untersucht. Zum anderen wurde eine strukturelle Analyse der erhaltenen Nanotemplate mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM), Kleinwinkelstreuung unter streifendem Einfall (GISAS) und Neutronenreflektometrie durchgeführt. Ein Vergleich dieser Techniken, die Simulationen von GISAS Streubildern mit der Bornschen Näherung mit gestörten Wellen (DWBA) und eine Beschreibung instrumenteller Verschmierungseffekte werden im Rahmen dieser Arbeit detailliert behandelt.","abstract_has_math":false,"creators":["Korolkov, Denis"],"institution":"Publikationsserver der RWTH Aachen University","degree_name":null,"degree_level":null,"degree_discipline":null,"degree_department":null,"school":null,"contributors":["Brückel, Thomas"],"advisors":[],"committee_chairs":[],"committee_members":[],"year":2008,"date_issued":"2008","date_published":"2008","updated_at":"2026-07-30T19:40:16Z","subjects":["info:eu-repo/classification/ddc/530","Diblockcopolymere","Nanostruktur","Kleinwinkelstreuung","Rasterkraftmikroskopie","Physik","Diblock copolymers","Nanostructure","Grazing incidence scattering","Atomic force microscope"],"languages":["eng"],"rights":["info:eu-repo/semantics/openAccess"],"rights_urls":[],"identifier_entries":[{"key":"dc:identifier","label":"Identifier","values":["https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-112575%22"],"render_values":[{"text":"https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-112575%22","href":"https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-112575%22","code":true}]}]},"links":{"outbound_url":"https://publications.rwth-aachen.de/record/50010","outbound_label":"Repository record","outbound_source":"dc:identifier"},"source_record":{"url":"https://publications.rwth-aachen.de/oai2d?verb=GetRecord&metadataPrefix=oai_dc&identifier=oai%3Apublications.rwth-aachen.de%3A50010","prefix":"oai_dc"},"metadata_groups":[{"id":"people","label":"People","entries":[{"key":"dc:contributor","label":"Contributor","values":["Brückel, Thomas"]},{"key":"dc:creator","label":"Author","values":["Korolkov, Denis"]}]},{"id":"academic_context","label":"Academic Context","entries":[{"key":"dc:coverage","label":"Dc Coverage","values":["DE"]},{"key":"dc:date","label":"Dc Date","values":["2008"]},{"key":"dc:publisher","label":"Institution","values":["Publikationsserver der RWTH Aachen University"]},{"key":"dc:relation","label":"Dc Relation","values":["info:eu-repo/semantics/altIdentifier/urn/urn:nbn:de:hbz:82-opus-22426"]},{"key":"dc:type","label":"Dc Type","values":["info:eu-repo/semantics/doctoralThesis","info:eu-repo/semantics/publishedVersion"]}]},{"id":"subjects_keywords","label":"Subjects and Keywords","entries":[{"key":"dc:subject","label":"Dc Subject","values":["info:eu-repo/classification/ddc/530","Diblockcopolymere","Nanostruktur","Kleinwinkelstreuung","Rasterkraftmikroskopie","Physik","Diblock copolymers","Nanostructure","Grazing incidence scattering","Atomic force microscope"]}]},{"id":"language_rights","label":"Language and Rights","entries":[{"key":"dc:language","label":"Dc Language","values":["eng"]},{"key":"dc:rights","label":"Dc Rights","values":["info:eu-repo/semantics/openAccess"]}]},{"id":"identifiers","label":"Identifiers","entries":[{"key":"dc:identifier","label":"Identifier","values":["https://publications.rwth-aachen.de/record/50010","https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-112575%22"]}]},{"id":"additional","label":"Additional Metadata","entries":[{"key":"dc:description","label":"Description","values":["Die Aufgabenstellung dieser Arbeit ist zweigeteilt. Zum einen wurde eine lithographische Methode zur Herstellung von Nanotemplaten geordneter magnetischer Nanostrukturen auf großen Oberflächen (größer als 1x1 cm^2) untersucht. Zum anderen wurde eine strukturelle Analyse der erhaltenen Nanotemplate mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM), Kleinwinkelstreuung unter streifendem Einfall (GISAS) und Neutronenreflektometrie durchgeführt. Ein Vergleich dieser Techniken, die Simulationen von GISAS Streubildern mit der Bornschen Näherung mit gestörten Wellen (DWBA) und eine Beschreibung instrumenteller Verschmierungseffekte werden im Rahmen dieser Arbeit detailliert behandelt."]},{"key":"dc:source","label":"Dc Source","values":["Aachen : Publikationsserver der RWTH Aachen University 165 S. : Ill., graph. Darst. (2008). = Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2008"]},{"key":"dc:title","label":"Title","values":["Structural analysis of diblock copolymer nanotemplates using grazing incidence scattering"]}]}],"canonical_facts":{"dc:contributor":["Brückel, Thomas"],"dc:coverage":["DE"],"dc:creator":["Korolkov, Denis"],"dc:date":["2008"],"dc:description":["Die Aufgabenstellung dieser Arbeit ist zweigeteilt. Zum einen wurde eine lithographische Methode zur Herstellung von Nanotemplaten geordneter magnetischer Nanostrukturen auf großen Oberflächen (größer als 1x1 cm^2) untersucht. Zum anderen wurde eine strukturelle Analyse der erhaltenen Nanotemplate mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM), Kleinwinkelstreuung unter streifendem Einfall (GISAS) und Neutronenreflektometrie durchgeführt. Ein Vergleich dieser Techniken, die Simulationen von GISAS Streubildern mit der Bornschen Näherung mit gestörten Wellen (DWBA) und eine Beschreibung instrumenteller Verschmierungseffekte werden im Rahmen dieser Arbeit detailliert behandelt."],"dc:identifier":["https://publications.rwth-aachen.de/record/50010","https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-112575%22"],"dc:language":["eng"],"dc:publisher":["Publikationsserver der RWTH Aachen University"],"dc:relation":["info:eu-repo/semantics/altIdentifier/urn/urn:nbn:de:hbz:82-opus-22426"],"dc:rights":["info:eu-repo/semantics/openAccess"],"dc:source":["Aachen : Publikationsserver der RWTH Aachen University 165 S. : Ill., graph. Darst. (2008). = Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2008"],"dc:subject":["info:eu-repo/classification/ddc/530","Diblockcopolymere","Nanostruktur","Kleinwinkelstreuung","Rasterkraftmikroskopie","Physik","Diblock copolymers","Nanostructure","Grazing incidence scattering","Atomic force microscope"],"dc:title":["Structural analysis of diblock copolymer nanotemplates using grazing incidence scattering"],"dc:type":["info:eu-repo/semantics/doctoralThesis","info:eu-repo/semantics/publishedVersion"]},"updated_at":"2026-07-30T19:40:16Z"}