Global ETD Search

Search theses and dissertations gathered from participating repositories worldwide. Every result links back to the library that holds it. No account is needed.

Results

Showing 1 to 2 of 2 for “"ANALISIS QUIMICO"”.

  1. Modelo dinámico de incorporación de oxígeno incidente sobre sustratos de silicio durante análisis de espectrometría de masas de iones secundarios

    … DE MASAS DE IONES SECUNDARIOS ES UNA TECNICA DE ANALISIS QUIMICO DE LA SUPERFICIE DE SOLIDOS CON GRAN MARGEN DINAMICO DE SEÑAL. ESENCIALMENTE, LA TECNICA CONSISTE EN EL PULVERIZADO DE LA SUPERFICIE A ANALIZAR POR INCIDENCIA DE UN HAZ DE IONES EN VACIO. JUNTO A OTROS TIPOS DE PARTICULAS, SE EMITEN …

    upm Repository record for Modelo dinámico de incorporación de oxígeno incidente sobre sustratos de silicio durante análisis de espectrometría de masas de iones secundarios (opens in a new tab)