Back to search

École de technologie supérieure

Caractérisation des circuits RF par des dispositifs de mesure intégrés

Abstract

dc:description

Le contexte actuel du marché des télécommunications connaît une demande sans cesse croissante des systèmes sans fils devant être dotés d'agilité, de flexibilité et de reconfigurabilité de sorte à s'affranchir de l'éternel problème de largeur de bande. Étant donné que l'agilité peut entraîner des changements d'impédance et des performances des composantes radio fréquences, la section RF se veut alors la réalisation de tels systèmes tout en intégrant des technologies de moindres coûts. Pour ce faire, il faudra les caractériser en temps réel. Notre travail se situe dans ce contexte de caractérisation embarquée en temps réel des circuits et composants RF. Le dispositif de caractérisation proposé dans ce mémoire consiste en un circuit intégrant le détecteur de phase et de gain AD8302 d'Analog Devices. Ce composant prend à ses entrées, deux signaux RF et produit deux tensions DC représentant leur rapport en amplitude ainsi que leur différence en phase. L'extraction de ces paramètres offre plusieurs applications dont la calibration automatique d'un circuit de transmission par l'entremise d'une plateforme numérique, l'analyse de charges complexes à une fréquence précise ou sur une bande de fréquences donnée (lOOMHz à 2.7 GHz). Le dispositif permettra de mesurer entre autre le coefficient de réflection à l'instar de l'analyseur de réseau, le gain d'un amplificateur, le déphasage entre les entrée et sortie d'un amplificateur ou d'un mélangeur, via des coupleurs. Une procédure de correction adéquate s'impose puis que les signaux deviennent couplés lorsqu'on utilise des coupleurs. Le système est piloté par une interface de contrôle et d'acquisition de données développée sur HP-VEE. Les mesures obtenues avec ce nouveau système ont été comparées et validées à l'analyseur de réseau vectoriel

Degree

thesis:*
Level thesis:degree_level
masters
Grantor dc:publisher
École de technologie supérieure
Year dc:date
2007

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*
Author dc:creator
  • Randolph, Floris

Subjects

dc:subject × 1

Rights

Language dc:language
fr

Identifiers

dc:identifier.*
Identifier
INSERT-YOUR-LIBRARY-ID-HERE222

Chain of custody

source
Harvested from
ETS (Quebec)
Base URL
espace.etsmtl.ca/cgi/oai2
Last updated
2026-08-21
Source record
OAI-PMH GetRecord
citation

Randolph, Floris. Caractérisation des circuits RF par des dispositifs de mesure intégrés. masters thesis, École de technologie supérieure, 2007.