Charakterisierung von ohmschen Titan-Aluminium-Kontakten auf Silizium-dotiertem Galliumnitrid mit der Augerelektronenspektroskopie und der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie

Blome, Markus

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Wissenschaftsverl. Mainz

Charakterisierung von ohmschen Titan-Aluminium-Kontakten auf Silizium-dotiertem Galliumnitrid mit der Augerelektronenspektroskopie und der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie

dc:creator Blome, Markus

dc:date2003

Degree

thesis:*

Grantor dc:publisher: Wissenschaftsverl. Mainz
Year dc:date: 2003

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*

Author dc:creator: Blome, Markus
Contributors dc:contributor: Eversheim, Walter

Rights

dc:rights

Statement dc:rights: info:eu-repo/semantics/closedAccess
Language dc:language: ger

Identifiers

dc:identifier.*

Identifier: https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-208191%22
OAI identifier oai:identifier: oai:publications.rwth-aachen.de:61829

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Harvested from: RWTH Aachen University
Base URL: publications.rwth-aachen.de/oai2d
Last updated: 2026-07-30
Source record: OAI-PMH GetRecord

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2003

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Blome, Markus. Charakterisierung von ohmschen Titan-Aluminium-Kontakten auf Silizium-dotiertem Galliumnitrid mit der Augerelektronenspektroskopie und der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie. Wissenschaftsverl. Mainz, 2003. https://publications.rwth-aachen.de/record/61829