Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie

Wittorf, Dirk

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RWTH Aachen University

Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie

dc:creator Wittorf, Dirk

dc:date1999

Author and committee

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Author dc:creator: Wittorf, Dirk
Contributors dc:contributor: Urban, Knut

Rights

dc:rights

Statement dc:rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Language dc:language: ger

Identifiers

dc:identifier.*

Identifier: https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-119421%22
OAI identifier oai:identifier: oai:publications.rwth-aachen.de:57367

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Last updated: 2026-07-30
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1999

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Wittorf, Dirk. Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie. 1999. https://publications.rwth-aachen.de/record/57367