Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten

Seo, Jin-Won

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Zentralbibliothek, Forschungszentrum Jülich

Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten

dc:creator Seo, Jin-Won

dc:date1996

Degree

thesis:*

Grantor dc:publisher: Zentralbibliothek, Forschungszentrum Jülich
Year dc:date: 1996

Author and committee

dc:creator, dc:contributor.*

Author dc:creator: Seo, Jin-Won

Rights

dc:rights

Statement dc:rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Language dc:language: ger

Identifiers

dc:identifier.*

Identifier: https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-CONV-119342%22
OAI identifier oai:identifier: oai:publications.rwth-aachen.de:57288

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Harvested from: RWTH Aachen University
Base URL: publications.rwth-aachen.de/oai2d
Last updated: 2026-07-30
Source record: OAI-PMH GetRecord

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1996

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Seo, Jin-Won. Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten. Zentralbibliothek, Forschungszentrum Jülich, 1996. https://publications.rwth-aachen.de/record/57288